Рентгенофлуоресцентный анализатор X-50

Рентгенофлуоресцентный анализатор X-50 оснащен полупроводниковым PiN детектором, эта технология была популярна в прошлом до появления кремниевых дрейфовых детекторов. Технология PiN обрабатывает сигналы от элементов в 10×20 раз хуже, чем кремниевые дрейфовые детекторы, и имеет разрешение, которое на 100 эВ меньше (большая ширина).

Однако для многих применений, таких как базовая сортировка нержавеющих, жаропрочных и медных сплавов или анализ базовых или тяжелых металлов в почвах, рудах, порошках, анализ драгметаллов, баббитов, RoHS и.т.д технология PiN детектора является вполне достаточной. Анализатор X-50 НЕ будет измерять Mg, Al или Si, а в некоторых материалах можно измерить P и S на уровне 1%. Пределы обнаружения для некоторых элементов будут в 5 раз выше по сравнению с моделями анализаторов X c дрейфовым детектором SDD. Однако X-50 имеет привлекательную цену и отлично работает для многих задач.

Лаборатория металлов X-50 включает ту же самую современную рентгеновскую трубку, что и другие модели X-серии, (работающие с напряжением 40 кВ), встроенную фото камеру и платформу Android OS. X-50 применим для сплавов, экологического мониторинга и анализа почв на содержание тяжелых металлов, горно-геологических применений. связанных с добычей и переработкой полезных ископаемых, анализа лома драгметаллов и отходов электроники и др. Анализаторы могут быть откалиброваны на заводе по Фундаментальным Параметрам, Комптоновской нормализации (для EPA Method 6200) или использовать пользовательские эмпирические калибровки.

Анализатор X-50 может быть применен в областях:

• археологии
• геологии и минералогии
• металлургии и химической промышленности
• контроле готовых изделий
• сельском хозяйстве
• пищевой промышленности
• экологии, охране труда и окружающей среды

Двойная защита детектора — защита ваших инвестиций.

X имеет защитный затвор из нержавейки, который открывается только во время теста и мгновенно закрывается после него. Затвор исключает единственную причину пробитых детекторов — случайного прикосновения пальцев, инструментов или кусков металла, которые могут повредить детектор и повлечь дорогостоящий ремонт.

Анализируемые элементы